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FLASH闪存IC测试座BGA152/132烧录座
  • FLASH闪存IC测试座BGA152/132烧录座
  • GA152探针翻盖转DIP48测试座产品简介产品用途:BGA152/132探针测试座,对BGA152/BGA132的芯片进行测试适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm测试座:BGA152/132-1.0翻盖探针测试座特点:采用进口探针,电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便,操作简单规格尺寸型号:BGA152/132-1.0引脚间距(mm):1.0
  • 2020-03-11 17:17  [广东深圳市]
  •    深圳市鸿怡电子有限公司  [未核实]
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