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膜厚仪性能，可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米。能够测量包含原子序号13至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材
料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。 精确度领先于世界，精确到0.025um (相对与标准片)
数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。 统计功能提供数据平均值、误差分析、最大
值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 XULM X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
膜厚仪操作 WINWIF系统、WIN系统及FIM系统，其最适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。
膜厚仪操作，博曼膜厚仪能提供各类金属层、合金层厚度的快速、准确、稳定、无损的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器菲希尔镀层测厚仪为您大大节省成本。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。联系人：周婷：13602562447
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博曼（Bowman）X-RAY膜厚仪可分析的样品种类繁多，包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等，检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围，覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。
它的优势有高性能、高精度、长期稳定性：快速精确的分析带来生产成本最优化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作
，生产人员易于使用.简单的校准调试：在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果，方法建立只需几分钟，我们提供认证标准片以确保最佳精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025），预置了多种校准参数.
